元器件参数测试仪器

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集成电路测试仪线路板故障测试仪图示仪高频Q表变压器/线圈测量仪高斯计

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	HB2931A可控硅参数测量仪	可控硅参数测试仪，可测量晶闸管的通态、短态、触发电压，维持电流，维持电压等参数。
	BJ4840线性集成电路图示仪	线性集成电路图示仪，此仪器用描绘DUT特性同线反映器件工作条件及参数变具有测试精高度，操作方便等特点。
	BJ4830高精度晶体管特性图示仪	高精度晶体管特性图示仪，集电极扫描电压0～1500V，电流0～20A，基极阶梯电流50nA/阶～200mA/阶共21档，阶梯电压50mV/阶～2V/阶共6档，发射极电流可测lnA/度～2mA/度，可局部扩展10倍。
	BJ4814晶体管特性图示仪	晶体管特性图示仪，集电极扫描0～5KV，电流0～20A，阶梯电流1mA～200mA/阶共17挡，阶梯电压源20mV/度～1V/度共6挡。
	BJ4811A晶体管特性图示仪	晶体管特性图示仪，集电极扫描电压0～1KV，电流0～1A，基极阶梯电流0.2uA～100mA/级共18档，阶梯电压0.05～1V/级共5档。
	BJ2952A晶体管击穿电压测试仪	晶体管击穿电压测试仪，测量三极管Bvcbo、Bvceo、Bvebo及Bvcer等参数，测试电流0～10mA共六档，测试电压0～350V共五档连续可调。
	BJ2948A闸流晶体管参数测试仪	闸流晶体管参数测试仪，可测试VGT、IGT、IH、VT（av）、IT(av)VTM、ITM及断态反向等共17个参数，断态电压可达2000V，通态最大电流到200A，采用内置计算机控制，CRT显示，带打印接口。
	BJ2942闸流管参数测试仪	闸流管参数测试仪，3 1/2位数字显示，测量可控硅的解放电压Vgt和角发电流Igt，测试结果显示时间2～12S连续可调。
	BJ2923智能化晶体管结合参数测试仪	智能化晶体管结合参数测试仪，数字显示，自动测量三极管12个直流参数及二极管直流参数，自动分选，带打印接口。
	BJ2922B场效应管测试仪	场效应管测试仪，数字显示，可测gm，Vp，Idss。
	BJ2912B稳压二极管测试仪	稳压二极管测试仪，可测量IN746～IN986、2CW、2DW系列各类稳压二极管的正向压降Vf，稳定电压Vz，动态电阻Rz及反向电流Ib，微机控制参数设置，数字显示及打印。
	CA4810A晶体管特性图示仪	晶体管特性图示仪，集电极电流0.1A～10A，集电极电压0～500V，阶梯电压范围0.05V/级～2V/级，双簇显示，场效应管配对和测试功能，可选配5KV测试台。
	YB4811半导体特性图示仪	图示仪，集电极电流10μA～10A，集电极电压0～3000V，双簇显示，测量半导体器件静态参数、极限参数、显示半导体器件各种特性曲线。
	YB4810A半导体特性图示仪	图示仪，集电极电流1μA～5A，集电极电压0～500V，双簇显示，测量半导体器件静态参数、极限参数、显示半导体器件各种特性曲线。
	XJ4832半导体管特性图示仪	数字存储大功率半导体管特性图示仪，彩色液晶显示器，最大测试电流100A，最大测试电压1000V，可测二端、三端半导体器件和大功率VMOS、IGBT管等场控器件，中、英文语言选择。
	XJ4830智能型可编程半导体图示仪	智能半导体管特性图示仪，VGA显示器，CRT读出，集电极电压范围0～2000V，电流0～50A，测试结果可存盘、可打印输出。
	XJ4822B图示仪	图示仪，无CRT读出，集电极电压0～500V，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试，二簇曲线显示，可配3KV测试台。
	XJ4822图示仪	图示仪，CRT读出，集电极电压0～500V，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试，二簇曲线显示，可配3KV测试台。
	XJ4812图示仪	图示仪，0～10V/5A，0～500V/2A。
	XJ4810A图示仪	图示仪，扫描电压500V，基极电流0.2μA/级～100mA/级分18档，集电极电流10μA/div～1A/div分16档，二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，配备3KV扩展装置后可测试CMOS、TTL、场效应管、三端稳压管。